Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x. - PASTEL - Thèses en ligne de ParisTech Access content directly
Theses Year : 1981

X-ray microanalysis near an absorption edge: how to obtain large field quantitative results by x-ray contact microscopy .

Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x.

Abstract

Comparaison, pour divers systemes de formation d'images x, des parametres tels que resolution des images, champ utilisable, flux disponible. Choix de la microscopie de contact, naturellement adaptee au rayonnement synchrotron. Principes de la microanalyse d'absorption x et limitations tant theoriques que pratiques; description de l'instrumentation. Obtention de resultats quantitatifs sur des echantillons tests de coupes de nodules oceaniques polymetalliques, en utilisant en particulier le traitement numerique des images .
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Dates and versions

pastel-00713896 , version 1 (03-07-2012)

Identifiers

  • HAL Id : pastel-00713896 , version 1

Cite

Emmanuel Bigler. Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x.. Optique [physics.optics]. Université Paris Sud - Paris XI, 1981. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨pastel-00713896⟩
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